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标题:Leeb436手持式表面粗糙度测量仪
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技术参数

项目

Leeb436

测量范围

Z轴(垂直)

320μm(Ra=30μm)

X轴(水平)

17.5mm

分辨率

Z轴(垂直)

0.01μm/±20μm

0.02μm/±40μm

0.04μm/±80μm

0.08μm/±160μm

测量项目

参数

Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS)、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr、Rku、RΔa、RΔq、Rδc、Ry;

Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2、V0;

标准

ISO,ANSI,DIN,JIS

图形

粗糙度轮廓,支承率曲线,直接轮廓

滤波器

RC,PC-RC,Gauss,D-P

取样长度(lr)

0.25,0.8,2.5mm

评定长度(ln)

Ln= lr×n    n=1~5

传感器

测量原理

位移式差动电感

触针

天然金刚石,90锥角,5μm针尖半径

测力

<4mN

导头

红宝石,滑行方向半径40mm

滑行速度

lr=0.25,   Vt=0.15mm/s

lr=0.8,    Vt=0. 5mm/s

lr=2. 5,    Vt=1mm/s

返回      Vt=1mm/s

示值误差

不大于±10%

示值变动性

不大于6%

电源

内置锂聚合物充电电池,用8.4V,800mA充电器充电

外形尺寸

112×50×47mm

重量

约360g

标准配置

主机、标准传感器、多刻线样板、样板支架、活动支架,遥控器、电源适配器、仪器箱

选配件

可选配简易平台

 

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